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GJB360.7电子及电气元件温度冲击试验方法

点击次数:1589 发布时间:2015/12/17
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GJB360.7电子及电气元件试验方法温度冲击试验

目的:确定元件保留于高低温极值下,以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。
应用:
试验样品的失效数应以zui后检测为依据。

对试验设备的要求
高温箱,低温箱应能提供第2章表1所规定的极值温度条件。
高温箱,低温相应符合GJB360.1-87

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