1.预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。
2.初始检测:将被测样品与标准要求对照,符合要求后直接放入高低温冲试验箱内即可。
3.开始试验:
A、在样品断电的状态下,试验样品应按标准要求放置在试验箱内,先将试验箱(室)内温度下降到-50℃,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,这一步非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生20℃以上温度,所以,在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,必须先将其“冻透”,再次通电进行测试。
B、低温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到90℃的高温试验箱(室)内,保持4h或者直至试验样品达到温度稳定,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后,执行A、B测试步骤。
C、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。
E、高温和低温测试分别重复10次。
F、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。
G、恢复:试验样品从试验箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
H、后检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。
高低温测试箱操作不当造成危害,故以下几点注意事项:
1、为保证设备及试验的安全,请安装外部保护接地,并按技术规格要求供给电源;
2、设备严禁用于易燃易爆、有毒、强腐蚀物品的试验;
3、非专业人员不得拆卸、维修;
4、设备应有可靠接地;
5、试验中除非必要请勿打开箱门或进入箱内,否则可能引起人身伤害以及设备误动作;
6、设备箱门门锁仅能从外部打开,进入箱内必须有人监护;
7、如果箱内放入发热试样,试样请使用外加电源,不要直接使用设备本身电源;
8、设备设有多种保护措施,请定期检查;
9、箱体内温度≥55℃时,请勿打开制冷压缩机,以保证压缩机长寿命正常的运行;
10、有制冷功能的产品搬运时倾角不得大于45℃,放置到位后,应静放1~2天再开机,有利于制冷系统能正常工作并延长寿命;