

高温老化箱是一款专为电子元器件高温老化筛选而设计的专业设备,最高工作温度可达 300℃,采用先进的 PID 智能温控系统与强制热风循环结构,确保箱内温度均匀稳定,满足各类电子元器件在高温环境下的老化测试与可靠性筛选需求。

本设备采用进口不锈钢内胆与高密度硅酸铝保温层,热损失低、升温快。控温系统搭载高精度 PT100 铂电阻传感器,配合 PID 自整定算法,实现精准控温。
| 技术参数 | 指标 |
|---|---|
| 温度范围 | 室温 +10℃ ~ 300℃ |
| 温度均匀度 | ±2℃(空载状态) |
| 控温精度 | ±1℃ |
| 温度波动度 | ±0.5℃ |
| 升温速率 | ≥3℃/min(空载) |
| 内胆材质 | SUS304 不锈钢 |
| 保温层 | 高密度硅酸铝纤维棉(100mm) |
| 循环方式 | 强制热风循环(多风道设计) |

设备配备多重安全保护机制,包括超温自动断电保护、漏电断路器、电机过载保护、传感器故障报警等,确保长时间无人值守老化试验的安全运行。箱门配有耐高温硅胶密封条,密封性能优异,有效防止热量散失。

在半导体生产线中,高温老化箱被广泛用于 IC 芯片、二极管、三极管等器件的高温老化筛选。通过在 125℃~200℃ 环境下进行 24~168 小时的加速老化,有效剔除早期失效品,提升出厂产品的可靠性与一致性。
LED 灯具成品需在高温环境下进行点亮老化测试,以验证驱动电源与 LED 芯片的热稳定性。本设备支持多层托盘放置,单次可容纳大量灯具样品,配合可编程温度曲线,满足 48~96 小时标准老化流程。
对于铝电解电容、薄膜电容及精密电阻等被动元件,高温老化箱可提供稳定的高温环境,配合外部电源加载系统,实现高温负荷寿命试验,验证元件在极端工况下的性能衰减特性。

标准容积规格包括 50L、100L、200L、500L 及 1000L,也可根据客户需求定制非标尺寸。设备标配 RS485 通讯接口,支持上位机软件远程监控与数据记录。质保一年,终身提供技术支持与配件供应。

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