电路板老化高低温测试箱,电路板高低温测试箱,电路板老化测试箱

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产品作用：

   电路板老化高低温测试箱又名高低温老化试验箱，用于检测电路板、线路板、电路线材、电路芯片及各种材料进行高低温恒定和渐变、突发、耐热、耐寒、耐干燥等环境模拟的可靠性及适应性。本试验箱适用于各类电子电器、塑胶塑料、航空航天、半导体照明、光电通讯、汽车零部件、电线电缆、金属五金、化工涂料、不干胶、纸品印刷、建材等行业品质检测及研发新项目之用。更多产品请专业厂家。

参数性能：

容积：80L      150L      225L       408L      800L     1000L

规格（单位:mm）：（W×H×D ）

型号:KW-GD-80  内形尺寸： 400×500×400   外箱尺寸：970×1360×970

型号:KW-GD-150 内形尺寸： 500×600×500   外箱尺寸：1070×1460×1070
型号:KW-GD-225 内形尺寸： 500×750×600   外箱尺寸：1070×1610×1170
型号:KW-GD-408 内形尺寸： 600×850×800   外箱尺寸：1170×1710×1280
型号:KW-GD-800 内形尺寸： 1000×1000×800 外箱尺寸：1550×1850×1300

型号:KW-GD-1000 内形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500

温度范围： Z:0～150℃  T:-20～150℃  F:-40～150℃  S:-70～150℃

温度波动度：±0.5℃   

温度均匀度：±2.0℃

升温速度：1.0～3.0℃/min

降温速率：0.7～1.2℃/min
电  源:   1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%

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